技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES掃描電子金屬顯微鏡 FlexSEM 1000通過高靈敏度二次電子探測器,背散射探測器,低真空探測器(UVD*2),實(shí)現(xiàn)低加速電壓/低真空下高質(zhì)量圖像觀察
掃描電子金屬顯微鏡 FlexSEM 1000詳細(xì)介紹
緊湊型設(shè)計(jì),分辨率為4 nm*1
通過高靈敏度二次電子探測器,背散射探測器,低真空探測器(UVD*2),實(shí)現(xiàn)低加速電壓/低真空下高質(zhì)量圖像觀察
操作簡捷,即使新手也能拍出高質(zhì)量的圖片
導(dǎo)航功能「SEM MAP」,便于快速鎖定視野
大窗口(30 mm2)SDD能譜系統(tǒng),便于快速分析元素成分*2
?掃描電子金屬顯微鏡 FlexSEM 1000技術(shù)規(guī)格
項(xiàng)目 | 內(nèi)容 | |
---|---|---|
分解能*3 | 4.0 nm @ 20 kV (SE:高真空模式) 15.0 nm @ 1 kV (SE:高真空模式) 5.0 nm @ 20 kV (BSE:低真空模式) | |
加速電壓 | 0.3 kV ~ 20 kV | |
放大倍率 | 6× ~ 300,000× (底片倍率) 16× ~ 800,000× (顯示倍率) | |
低真空模式 | 真空范圍:6 ~ 100 Pa | |
電子槍 | 預(yù)對(duì)中鎢燈絲 | |
樣品臺(tái) | 3-軸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái) X:0 ~ 40 mm, Y:0 ~ 50 mm, Z:5 ~ 15 mm R:360°, T:-15° ~ +90° | |
大樣品尺寸 | 直徑80 mm | |
大樣品高度 | 40 mm | |
尺寸 | 主機(jī):450(W) x 640(D) x 670(H) mm 供電單元:450(W) x 640(D) x 450(H) mm | |
探測器選配 |
|
Copyright © 2024北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司 All Rights Reserved 備案號(hào):京ICP備19005501號(hào)-1
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)
管理登錄 sitemap.xml