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平面度測試儀用于準確且多樣性地對各種IC封裝器件的引腳進行測量。引腳的共面與否、是否有移位和尺寸大小均可通過軟件記錄和存儲。測試過程中,IC封裝器件的引腳放置于LED陣列光源形成的可調(diào)節(jié)細格光柵前,器件的左右移動通過儀器側(cè)面的手輪控制。
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