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實(shí)驗(yàn)檢測(cè)儀器
粗糙度測(cè)量?jī)x
產(chǎn)品分類(lèi)
非接觸表面粗糙度檢測(cè)儀 建立3D立體影像采用多孔共聚焦技術(shù),結(jié)合ccd的影像攝取,以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤(pán)取代偵測(cè)器的孔洞,再將物鏡垂直移動(dòng),以類(lèi)似斷層攝影方式,可在短時(shí)間(約幾秒)內(nèi)量測(cè)物體的三維數(shù)據(jù)。其測(cè)量方式是非接觸式,不會(huì)破壞樣品的表面,不需要在真空環(huán)境下測(cè)量,也可以用共聚焦顯微鏡測(cè)量的功能來(lái)觀測(cè)樣本,其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下,也能正常使用。
非接觸式表面輪廓粗糙度測(cè)量?jī)x是一種通過(guò)彩色激光光源發(fā)射出一束高密度寬光譜光,通過(guò)色散鏡頭后,在量程范圍內(nèi)形成不同波長(zhǎng)的單色光,每個(gè)波長(zhǎng)對(duì)應(yīng)一個(gè)距離值。測(cè)量光射到物體表面反射回來(lái),只有滿(mǎn)足共聚焦條件的光,可以通過(guò)小孔被光譜儀感測(cè)到它被廣泛應(yīng)用在各種不同的精密產(chǎn)業(yè)中如油墨厚度測(cè)量,MLCC厚度測(cè)量,厚膜電路測(cè)量,銀漿厚度測(cè)量,激光刻蝕測(cè)量,涂膠厚度測(cè)量,半導(dǎo)體
非接觸式粗糙度測(cè)試儀 PZ-30LS是一種通過(guò)彩色激光光源發(fā)射出一束高密度寬光譜光,通過(guò)色散鏡頭后,在量程范圍內(nèi)形成不同波長(zhǎng)的單色光,每個(gè)波長(zhǎng)對(duì)應(yīng)一個(gè)距離值。測(cè)量光射到物體表面反射回來(lái),只有滿(mǎn)足共聚焦條件的光,可以通過(guò)小孔被光譜儀感測(cè)到它被廣泛應(yīng)用在各種不同的精密產(chǎn)業(yè)中如油墨厚度測(cè)量,MLCC厚度測(cè)量,厚膜電路測(cè)量,銀漿厚度測(cè)量,激光刻蝕測(cè)量,涂膠厚度測(cè)量,半導(dǎo)體、
非接觸粗糙度測(cè)量?jī)x主要應(yīng)用于:油墨厚度測(cè)量,MLCC厚度測(cè)量,厚膜電路測(cè)量,銀漿厚度測(cè)量,激光刻蝕測(cè)量,涂膠厚度測(cè)量,半導(dǎo)體、特種材料表面粗糙度測(cè)量等。
便攜分體式粗糙度儀金屬與非金屬被測(cè)零件表面粗糙度的檢測(cè),適用于多種機(jī)加工零件、機(jī)械加工制造業(yè)、檢測(cè)、商檢等部門(mén),尤其適用于大型工件及生產(chǎn)流水線(xiàn)的現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn),以及檢測(cè)、計(jì)量、商檢等部門(mén)的外出檢定,不會(huì)對(duì)工件產(chǎn)生損傷。
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